目前主流的產(chǎn)品標(biāo)識(shí)都是噴印在產(chǎn)品上，但由于工藝原因，印刷標(biāo)識(shí)通常存在一定的印刷缺陷，如印刷錯(cuò)位、漏印、錯(cuò)印等，嚴(yán)重影響產(chǎn)品質(zhì)量。品牌的外觀和整體形象。針對(duì)此類(lèi)問(wèn)題，不少企業(yè)采用人工檢測(cè)來(lái)檢測(cè)印刷品的質(zhì)量。但是，由于人工檢查過(guò)程中不可避免的錯(cuò)誤，會(huì)造成大量漏檢、誤檢和人工損壞。日益高昂的勞動(dòng)力成本也成為制約廠(chǎng)商擴(kuò)張的主要因素。在行業(yè)中，高光材料用于加工一些平整度較高、表面要求較高的工件，如手機(jī)標(biāo)識(shí)、軍用設(shè)備等產(chǎn)品中的導(dǎo)光板，如Apple LOGO缺陷檢測(cè)。此類(lèi)工件樣品本身呈鏡面反射，工件本身平整度高，易沾油漬、指紋等。

【檢測(cè)類(lèi)型】

碰傷、擊傷、缺口瑕疵檢測(cè)

刮傷瑕疵檢測(cè)

壓傷、凹痕瑕疵檢測(cè)

針孔瑕疵檢測(cè)

腐蝕點(diǎn)、白點(diǎn)、麻點(diǎn)瑕疵檢測(cè)

臟污瑕疵檢測(cè)

研磨痕瑕疵檢測(cè)

料線(xiàn)、料紋瑕疵檢測(cè)

凸包瑕疵檢測(cè)等

【檢測(cè)難點(diǎn)】

由于材質(zhì)表面光潔度很高，已經(jīng)形成一個(gè)高光鏡面，光源即使在很弱的狀態(tài)下，表面的反光也會(huì)有非常強(qiáng)的對(duì)比度，這種對(duì)比度會(huì)把表面本身的雜質(zhì)、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋，使得視覺(jué)拍照無(wú)法檢測(cè)出零件表面缺陷。

倒影問(wèn)題：由于材質(zhì)表面已經(jīng)形成一個(gè)鏡面，一般的光學(xué)鏡頭和視覺(jué)光源的燈珠等都會(huì)在材質(zhì)表面形成倒影，這個(gè)倒影會(huì)成像在最后的檢測(cè)畫(huà)面上,會(huì)嚴(yán)重影響材質(zhì)表面的成像效果，造成檢測(cè)無(wú)法進(jìn)行

總結(jié)：國(guó)辰機(jī)器人根據(jù)多年機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)，總結(jié)出的成熟系統(tǒng)解決方案，主要用來(lái)解決電子產(chǎn)品表面Logo缺陷檢測(cè)，目前主要應(yīng)用在國(guó)內(nèi)產(chǎn)品Logo和手機(jī)外殼Logo表面缺陷檢測(cè)。